La protection des informations sensibles peut être mise à mal par des fuites électromagnétiques de systèmes électroniques traitant ces informations. La gestion de ce risque d’espionnage électromagnétique constitue le domaine TEMPEST, domaine de la protection des informations sensibles récupérables à distance par rayonnement électromagnétique ou conduction électrique. Cet article présente la possibilité d’interception par un individu hostile d’informations traitées par des appareils électroniques, la création et l’analyse des signaux parasites compromettants, leur caractérisation et leur réduction. Les points communs et les différences entre le domaine TEMPEST et le domaine CEM sont discutés.
Les cartes électroniques sont conçues avec une augmentation constante de niveau de complexité. Des effets sur la Compatibilité ElectroMagnétique (CEM) et l’Intégrité du Signal (IS) sont constatés. Pour éviter ces conséquences indésirables, une méthodologie de simulation et de modélisation est nécessaire. Le présent article propose une méthode de simulation et modélisation en CEM conduite d’une carte électronique. Des modèles d’émission et de susceptibilité en CEM conduite sont considérés. Une étude marginale décrite en dernière section permet d’évaluer le niveau de risque de dysfonctionnement d’une carte électronique.
L’obsolescence rapide des composants électroniques force les équipementiers à développer des stratégies pour éviter les ruptures d’approvisionnement. Cependant, ce problème a un impact majeur sur la qualification de la compatibilité électromagnétique (CEM) des équipements. Tout changement de composant doit s’accompagner d’une requalification CEM complète. Le coût important des essais de CEM oblige les équipementiers à rechercher des méthodes permettant de justifier la non-reprise des essais CEM sur équipement. Cet article présente les enjeux de l’obsolescence des composants sur la qualification CEM, illustre les différences électromagnétiques entre composants fonctionnellement équivalents, et décrit les approches existantes visant à optimiser la qualification CEM des équipements.
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