Article

1 - PRÉSENTATION

2 - SURFACES AMPLIFICATRICES

3 - AMPLIFICATION DE CONTRASTE EN MICROSCOPIE OPTIQUE

4 - MICROSCOPIE SEEC

5 - CONCLUSION

Article de référence | Réf : NM7500 v1

Microscopie SEEC : la microscopie optique comme outil de caractérisation nanométrique

Auteur(s) : Nicolas MEDARD, Marie-Pierre VALIGNAT

Date de publication : 10 oct. 2011

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Auteur(s)

  • Nicolas MEDARD : Responsable Développement Couches minces, Nanolane - Chargé du développement de nouveaux supports optiques SEEC

  • Marie-Pierre VALIGNAT : Maître de conférences à l’université Aix-Marseille 2, - Laboratoire Adhésion & Inflammation, INSERM U600, CNRS UMR 6212 - Co-inventeur de la microscopie SEEC

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INTRODUCTION

Résumé :

Ces dernières décennies, de nombreuses techniques d’amplification du signal pour repousser les limites de détection ont vu le jour. La grande majorité d’entre elles mettent en œuvre l’utilisation de supports aux propriétés bien spécifiques. En effet, des supports constitués de couches minces ou de couches micro- ou nanostructurées sont aujourd’hui présents dans des domaines tels que l’analyse biologique sans marquage, la spectroscopie RAMAN ou encore la microscopie SNOM... Des supports amplificateurs de contraste ont également été développés pour la microscopie optique mais leurs performances restaient jusqu’à maintenant très limitées. En effet, la microscopie optique pose des contraintes particulières de par la géométrie du faisceau d’éclairage incident. Une étude portant sur la modélisation du trajet lumineux en lumière polarisée a récemment permis l’élaboration de supports répondant à des conditions d’amplification de contraste. De par leurs caractéristiques, ces supports permettent avec un microscope optique standard, la visualisation de couches et d’objets d’épaisseurs nanométriques (nanofilm, biofilm, biopuce, brin d’ADN, nanoparticule, nanotube de carbone, feuillet de graphène...).

Abstract :

These last decades, numerous signal enhancement techniques to push away the detection limits were born. Most of them implement the use of supports with specific properties. Indeed, supports made of thin layers, or micro- or nano-structured layers are present in topics such as unlabelling biological analysis, RAMAN spectroscopy, SNOM microscopy... Contrast enhanced supports were also developed for the optical microscopy but their performances remained so far very limited. Indeed, the optical microscopy has particular constraints due to the geometry of the incidental lightbeam. Recently, a study concerning the modelling of the polarized light beam allowed the elaboration of supports having contrast-enhancement properties. Due to their characteristics, these supports enable to visualize with a standard optical microscope, layers and objects having nanometric thicknesses (nanofilm, biofilm, biochip, ADN strength, nanoparticle, carbon nanotube, graphene sheet...).

Mots-clés :

SEEC, Microscopie optique, nanotechnologie, surface amplificatrice de contraste, nano-films, nano-objets.

Keywords :

SEEC, optical microscopy, nanotechnology, contrast-enhanced surface, nano-films, nano-objects.

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DOI (Digital Object Identifier)

https://doi.org/10.51257/a-v1-nm7500


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BIBLIOGRAPHIE

  • (1) - SCHASFOORT (R.B.M.), TUDOS (A.J.) -   Handbook of Surface PlasmonResonance  -  RSC Publishing (2008).

  • (2) - FORT (E.), GRESILLON (S.) -   *  -  . – J. Phys. D : Appl. Phys., 41(1), 013001 (2008).

  • (3) - AIZPURUA (J.), TAUBNER (T.), JAVIER GARCIA de ABAJO (F.), BREHM (M.), HILLENBRAND (R.) -   *  -  . – Optics Express, 16(3), 1529-1545 (2008).

  • (4) - NOMARSKI (G.) -   Interferentialpolarizingdevice for study of phase objects  -  US Patent 2924142.

  • (5) - LESSOR (D.L.), HARTMAN (J.S.), GORDON (R.L.) -   *  -  . – I. Theory. J. Opt. Soc. Am. 69, 357-366 (1979).

  • (6) - PLUTA (M.) -   Advanced light microscopy  -  Elsevier, Amsterdam, Vol. 2, Chap. 7 (1989).

  • ...

1 Brevets

Supports antiréfléchissants et supports amplificateurs de contraste pour la lumière polarisée en réflexion [FR 2 841 339 A1].

Dispositif de visualisation bidimensionnelle ellipsométrique d’un échantillon, procédé de visualisation et procédé de mesure ellipsométrique avec résolution spatiale [FR 2 818 376 A1].

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2 Annuaire

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2.1 

Commercialisation de supports amplificateurs de contraste optique :Nanolane-France http://www.nano-lane.com

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