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RÉSUMÉ
Cet article compare sous forme de tableau toutes les méthodes de mesures sans contact. Une première comparaison concerne toutes les méthodes utilisables pour la mesure des profils, formes, et états de surface. Puis un second tableau compare les méthodes de mesure de déplacement sans contact. Enfin une liste non exhaustive de fournisseurs de ces technologie vient conclure cet article.
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Jean-Louis CHARRON : Ingénieur au Centre technique des industries mécaniques (CETIM)
INTRODUCTION
Les capteurs et méthodes de mesures dimensionnelles sans contact sont nombreux et divers. Ces méthodes se caractérisent par leur étendue de mesure, le type de pièce qu’elles permettent de mesurer, la vitesse et la distance de mesure, leurs résolutions et justesse. Ce sont ces divers paramètres qui guident le choix de l’ingénieur confronté à une problématique de mesure de distance ou de déplacement.
Les données sont en constantes évolutions, en particulier pour ce qui concerne la vitesse de mesure des profils, des formes et des états de surface où l’amélioration très rapide et la réduction des coûts des moyens informatiques permettent le traitement de plus en plus rapide et en quantité importante des informations issues des capteurs.
Les valeurs indiquées représentent l’état de l’art pour des calculateurs majoritairement munis d’horloges à 200 MHz.
Cet article propose un comparatif et des listes non exhaustives de fournisseurs des méthodes de mesure présentées dans les articles :
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Mesures sans contact. Généralités Mesures sans contact- Généralités ;
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Mesures sans contact. Méthodes magnétiques et capacitives Mesures sans contact- Méthodes magnétiques et capacitives ;
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Mesures sans contact. Méthodes optiques (partie 1) Mesures sans contact- Méthodes optiques (partie 1) ;
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Mesures sans contact. Méthodes optiques (partie 2) Mesures sans contact- Méthodes optiques (partie 2) ;
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Mesures sans contact. Autres méthodes [R 1 334] ;
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Méthodes de mesure des profils, formes et états de surface
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3. Fournisseurs
Une liste non exhaustive des fournisseurs de systèmes de mesure est présentée au tableau 3.
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