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1 - PRÉSENTATION GÉNÉRALE

2 - APPROCHE THÉORIQUE

3 - CONCLUSION

4 - GLOSSAIRE

5 - SIGLES, NOTATIONS ET SYMBOLES

Article de référence | Réf : R2918 v1

Conclusion
Mesure de la conductivité thermique par la méthode 3-oméga

Auteur(s) : Mickaël BEAUDHUIN

Date de publication : 10 déc. 2019

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Auteur(s)

  • Mickaël BEAUDHUIN : Maître de conférences à l’université de Montpellier, Institut de Chimie Moléculaire et des Matériaux de Montpellier – Institut Charles Gerhardt de Montpellier, CNRS, ENSCM, -Montpellier, France - Ancien élève de l’Institut national polytechnique de Grenoble

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INTRODUCTION

Il existe actuellement une multitude de techniques permettant de mesurer la conductivité thermique de matériaux solides, liquides ou gazeux. Elles se répartissent en deux grands groupes, les méthodes stationnaires (en régime permanent) et les méthodes transitoires (en fréquence ou en temps).

Parmi ces méthodes, la méthode 3-oméga, qui est une méthode transitoire, peut être appliquée à des solides de différentes dimensionnalités (massifs, couches minces ou encore nanofils), à des liquides et à des gaz. Elle peut aussi être utilisée pour caractériser des tissus mous et dévoile un peu plus l’étendue de ses possibilités. La principale limitation de cette technique réside dans la préparation des capteurs associés aux différents types d’échantillons et aux modèles thermiques qui lui sont associés. Le capteur utilisé est composé d’une résistance de largeur micrométrique, en contact avec l’échantillon à caractériser, qui permet de mesurer de faibles variations de température. Dans le cadre de matériau massif, ce capteur est en général déposé par des techniques de photolithographie directement sur le matériau à caractériser. Il est aussi possible de l’utiliser comme capteur externe (ou comme capteur autoporté) pour des échantillons solides, liquides ou gazeux.

Cet article permet de situer la méthode 3-oméga vis-à-vis des différentes techniques existantes de caractérisation de la conductivité thermique. La théorie associée à cette méthode ainsi que la méthodologie à suivre pour caractériser les différentes formes d’échantillons seront abordées de même que l’estimation des erreurs associées aux modèles thermiques, à la géométrie des échantillons et à leurs propriétés physiques.

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DOI (Digital Object Identifier)

https://doi.org/10.51257/a-v1-r2918


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3. Conclusion

Comme nous l’avons vu, la méthode 3-oméga est une technique de mesure de la conductivité thermique extrêmement versatile. Elle permet de caractériser à la fois des solides de différentes géométries (massifs, couches minces, multicouches, membranes, nanofils, rubans…), des liquides, des gaz ou encore des tissus mous en adaptant les modèles thermiques. Son utilisation pour la caractérisation de matériaux massifs reste limitée (principalement aux basses températures) et s’explique par la complexité de mise en œuvre des échantillons comparée aux autres techniques de caractérisation en régime transitoire. Le développement de capteurs autoportés pourrait répondre à cette problématique. Elle reste cependant incontournable pour la caractérisation des systèmes à basses dimensionnalité (couches minces, multicouches, membranes) en permettant de caractériser la conductivité thermique perpendiculaire ou parallèle au plan et rivalise avec les techniques stationnaires pour la caractérisation de la conductivité thermique de nanofils. Par ailleurs, le développement de capteurs autoportés laisse envisager de nouvelles perspectives prometteuses pour la caractérisation de tissus mous, de matériaux poreux, etc.

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BIBLIOGRAPHIE

  • (1) - LIDE (D.R.) -   CRC Handbook of Chemistry and Physics.  -  CRC Press, Boca Raton, FL (2005). doi:10.1021/ja906434c.

  • (2) - GHOSH (S.), CALIZO (I.), TEWELDEBRHAN (D.), POKATILOV (E.P.), NIKA (D.L.), BALANDIN (A.A.), BAO (W.), MIAO (F.), LAU (C.N.) -   Extremely high thermal conductivity of graphene : Prospects for thermal management applications in nanoelectronic circuits.  -  Appl. Phys. Lett., 92, 3 (2008). doi:10.1063/1.2907977.

  • (3) - CZICHOS (H.), SAITO (T.), SMITH (L.) -   Handbook of Materials Measurement Methods.  -  Springer (2006).

  • (4) - ZARR (R.R.) -   Uncertainty Analysis of Thermal Transmission Properties Determined by ASTM C177-04.  -  J. Test. Eval., 38, 102462 (2010).

  • (5) - RODER (H.M.) -   A transient hot wire thermal conductivity apparatus for fluids.  -  J. Res. Natl. Bur. Stand., 86, 457-493 (1981).

  • ...

NORMES

  • Thermal insulation – Determination of steady-state thermal resistance and related properties – Guarded hot plate apparatus. ISO - ISO 8302 - 1991

  • Isolation thermique – Détermination de la résistance thermique et des propriétés connexes en régime stationnaire – Méthode fluxmétrique. ISO - ISO 8301 - 1991

  • Plastiques – Détermination de la conductivité thermique et de la diffusivité thermique – Partie 2 : Méthode de la source plane transitoire (disque chaud). ISO - ISO 22007-2 - 2015

  • Matériaux réfractaires – Détermination de la conductivité thermique – Méthodes du fil chaud 2010. ISO - ISO 8894-1 - 2010

  • Matériaux réfractaires – Détermination de la conductivité thermique – Partie 2 : méthode du fil chaud (parallèle). ISO - ISO 8894-2 - 2007

  • Standard Test Method for Steady-State Thermal Transmission Properties by Means of the Heat Flow Meter Apparatus. ASTM - ASTM C518 - 2017

  • ...

ANNEXES

  1. 1 Annuaire

    1 Annuaire

    Constructeurs – Fournisseurs – Distributeurs (liste non exhaustive)

    Constructeur d’un dispositif de caractérisation des propriétés thermiques de couches minces par la méthode 3-oméga :

    Linseis Messgeraete GmbH, Allemagne :

    https://www.linseis.com/

    Constructeurs d’amplificateurs lock-in :

    Stanford Research Systems, États-Unis :

    https://www.thinksrs.com

    Zurich Instruments, Suisse :

    https://www.zhinst.com/europe/fr

    National Instruments, États-Unis :

    https://www.ni.com

    Constructeurs de générateurs de tension/courant :

    Stanford Research Systems, États-Unis :

    https://www.thinksrs.com

    Tektronix, États-Unis :

    https://fr.tek.com

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