Article

1 - CONTEXTE

2 - MÉTHODES D'ANALYSE DES ŒUVRES D'ART

3 - IMAGERIE TÉRAHERTZ IMPULSIONNELLE

4 - SCANNER TÉRAHERTZ 3D

5 - PERSPECTIVES ET ÉVOLUTIONS

Article de référence | Réf : RE213 v1

Le rayonnement térahertz pour l'analyse des matériaux du patrimoine culturel

Auteur(s) : Julien LABAUNE, Emmanuel ABRAHAM

Date de publication : 10 févr. 2013

Pour explorer cet article
Télécharger l'extrait gratuit

Vous êtes déjà abonné ?Connectez-vous !

Sommaire

Présentation

Version en anglais En anglais

RÉSUMÉ

Le rayonnement térahertz, grâce à son fort pouvoir de pénétration à travers de nombreux matériaux opaques, présente sans conteste des atouts considérables pour l'analyse des objets issus de notre héritage culturel. Pour s'en convaincre, sont présentés ici les récents résultats obtenus dans ce domaine à l'aide de deux dispositifs d'imagerie térahertz complémentaires, portables et mis à la disposition des musées nationaux et internationaux.

Lire cet article issu d'une ressource documentaire complète, actualisée et validée par des comités scientifiques.

Lire l’article

ABSTRACT

Terahertz radiation for the analysis of materials from the cultural heritage

Due to its high power of penetration into a large number of opaque materials, terahertz radiation indisputably presents considerable advantages for the analysis of artifacts from our cultural heritage. To illustrate this, this article presents the recent results obtained in this domain via two complementary portable terahertz imaging systems, put at the disposal of national and international museums.

Auteur(s)

  • Julien LABAUNE : Docteur de l'École polytechnique (C2RMF), - Ingénieur ONERA (DMPH-FPA)

  • Emmanuel ABRAHAM : Maître de conférences (HDR) au Laboratoire ondes et matière d'Aquitaine (LOMA), CNRS UMR 5798, université Bordeaux 1

INTRODUCTION

Résumé

Le rayonnement térahertz, grâce à son fort pouvoir de pénétration à travers de nombreux matériaux opaques, présente sans conteste des atouts considérables pour l'analyse des objets issus de notre héritage culturel. Pour s'en convaincre, nous proposons à travers cet article de résumer les récents résultats que nous avons pu obtenir dans ce domaine à l'aide de deux dispositifs d'imagerie térahertz complémentaires, portables et mis à la disposition des musées nationaux et internationaux.

Abstract

Terahertz radiation, owing to a high penetration through numerous opaque materials, offers a great potential for the analysis of artifacts related to our cultural heritage. In order to convince the reader, we propose in this article to resume our recent results obtained in this domain with two complementary portable terahertz imaging systems, directly installed in national and international museums.

Mots-clés

Imagerie, spectroscopie, térahertz, peintures, fresques, sculptures

Keywords

Imaging, spectroscopy, terahertz, paintings, frescoes, sculptures

Points clés

Domaine : techniques d'imagerie et d'analyse

Degré de diffusion de la technologie : Émergence | Croissance | Maturité

Technologies impliquées : optique, électronique, traitement du signal, traitement d'image, algorithmes de reconstruction

Domaines d'application : patrimoine, archéologie, anthropologie, sécurité

Principaux acteurs français :

Pôles de compétitivité : route des Lasers (Aquitaine)

Centres de compétence :

  • Centre de recherche et de restauration des Musées de France (C2RMF) ;

  • Laboratoire ondes et matière d'Aquitaine (LOMA) ;

  • ALPhANOV, Centre technologique optique et lasers (Bordeaux) ;

  • CHARISMA : Cultural Heritage Advanced Research Infrastructure, projet européen de mise en commun des infrastructures scientifiques au profit de conservateurs.

Industriels : CIRAM, Analyses scientifiques des objets d'art et du patrimoine

Autres acteurs dans le monde : National Institute of Information and Communications Technology (NICT, Japon), Picometrix (USA), Teraview (Grande-Bretagne), GigaOptics

Contact : [email protected] http://www.loma.cnrs.fr/spip.php?auteur6

Cet article est réservé aux abonnés.
Il vous reste 92% à découvrir.

Pour explorer cet article
Téléchargez l'extrait gratuit

Vous êtes déjà abonné ?Connectez-vous !


L'expertise technique et scientifique de référence

La plus importante ressource documentaire technique et scientifique en langue française, avec + de 1 200 auteurs et 100 conseillers scientifiques.
+ de 10 000 articles et 1 000 fiches pratiques opérationnelles, + de 800 articles nouveaux ou mis à jours chaque année.
De la conception au prototypage, jusqu'à l'industrialisation, la référence pour sécuriser le développement de vos projets industriels.

DOI (Digital Object Identifier)

https://doi.org/10.51257/a-v1-re213


Cet article fait partie de l’offre

Innovations technologiques

(178 articles en ce moment)

Cette offre vous donne accès à :

Une base complète d’articles

Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques

Des services

Un ensemble d'outils exclusifs en complément des ressources

Un Parcours Pratique

Opérationnel et didactique, pour garantir l'acquisition des compétences transverses

Doc & Quiz

Des articles interactifs avec des quiz, pour une lecture constructive

ABONNEZ-VOUS

Lecture en cours
Présentation
Version en anglais En anglais

Cet article est réservé aux abonnés.
Il vous reste 93% à découvrir.

Pour explorer cet article
Téléchargez l'extrait gratuit

Vous êtes déjà abonné ?Connectez-vous !


L'expertise technique et scientifique de référence

La plus importante ressource documentaire technique et scientifique en langue française, avec + de 1 200 auteurs et 100 conseillers scientifiques.
+ de 10 000 articles et 1 000 fiches pratiques opérationnelles, + de 800 articles nouveaux ou mis à jours chaque année.
De la conception au prototypage, jusqu'à l'industrialisation, la référence pour sécuriser le développement de vos projets industriels.

Cet article fait partie de l’offre

Innovations technologiques

(178 articles en ce moment)

Cette offre vous donne accès à :

Une base complète d’articles

Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques

Des services

Un ensemble d'outils exclusifs en complément des ressources

Un Parcours Pratique

Opérationnel et didactique, pour garantir l'acquisition des compétences transverses

Doc & Quiz

Des articles interactifs avec des quiz, pour une lecture constructive

ABONNEZ-VOUS

Sommaire
Sommaire

BIBLIOGRAPHIE

  • (1) - DUVAL (A.R.), MARTIN (E.) -   Les deux variétés de jaune de plomb et d'étain : étude chronologique.  -  Stud. Conserv., vol. 35(3), p. 117-136 (1990).

  • (2) - BELLOT-GURLET (L.), POUPEAU (G.), SALOMON (J.), CALLIGARO (T.), MOIGNARD (B.), DRAN (J.-C.), BARRAT (J.-A.), PICHON (L.) -   Obsidian provenance studies in archaeology : A comparison between pixe, icp-aes and icp-ms.  -  Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B : Beam Interactions with Materials and Atoms, vol. 240(1-2), p. 583-588 (2005).

  • (3) - DE NOLF (W.), DIK (J.), VAN DER SNICKT (G.), WALLERT (A.), JANSSENS (K.) -   High energy x-ray powder diffraction for the imaging of (hidden) paintings.  -  J. Anal. At. Spectrom., vol. 26, p. 910-916 (2011).

  • (4) - MILLER (F.A.), WILKINS (C.H.) -   Infrared spectra and characteristic frequencies of inorganic ions.  -  Analytical Chemistry, vol. 24(8), p. 1253-1294 (1952).

  • (5) - SALVANT (J.), BARTHEL (E.), MENU (M.) -   Nanoindentation and the micromechanics of van gogh oil paints.  -  Applied Physics A : Materials Science and Processing,...

1 Annuaire

HAUT DE PAGE

1.1 Laboratoires – Bureaux d'études – Centres de recherche

LOMA (Laboratoire Ondes et Matière d'Aquitaine), CNRS UMR 5798, Université Bordeaux 1 http://www.loma.cnrs.fr

C2RMF (Centre de Recherche et de Restauration des Musées de France) http://www.c2rmf.fr

Centre Technologique Lasers et Optique ALPhANOV http://www.alphanov.com

CIRAM, Analyses scientifiques des objets d'art et du patrimoine http://www.ciram-art.com

HAUT DE PAGE

1.2 Constructeurs – Fournisseurs – Distributeurs

Picometrix, fournisseur d'instrumentation THz https://lunainc.com/blog/picometrixr-finds-its-new-home-terametrixtm-division-luna

TERAVIEW, fournisseur d'instrumentation THz http://www.teraview.com

Gigaoptics, fournisseur d'instrumentation THz ...

Cet article est réservé aux abonnés.
Il vous reste 95% à découvrir.

Pour explorer cet article
Téléchargez l'extrait gratuit

Vous êtes déjà abonné ?Connectez-vous !


L'expertise technique et scientifique de référence

La plus importante ressource documentaire technique et scientifique en langue française, avec + de 1 200 auteurs et 100 conseillers scientifiques.
+ de 10 000 articles et 1 000 fiches pratiques opérationnelles, + de 800 articles nouveaux ou mis à jours chaque année.
De la conception au prototypage, jusqu'à l'industrialisation, la référence pour sécuriser le développement de vos projets industriels.

Cet article fait partie de l’offre

Innovations technologiques

(178 articles en ce moment)

Cette offre vous donne accès à :

Une base complète d’articles

Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques

Des services

Un ensemble d'outils exclusifs en complément des ressources

Un Parcours Pratique

Opérationnel et didactique, pour garantir l'acquisition des compétences transverses

Doc & Quiz

Des articles interactifs avec des quiz, pour une lecture constructive

ABONNEZ-VOUS