Présentation

Article

1 - CONTEXTE

2 - MATÉRIAUX ET TECHNOLOGIES POUR L'OBTENTION DE PROPRIÉTÉS HB ET UHB FLEXIBLES ET TRANSPARENTES

3 - PROCÉDÉS DE MISE EN OEUVRE DES MATÉRIAUX BARRIÈRES

4 - MESURES DE PROPRIÉTÉS BARRIÈRES AU GAZ

5 - PERSPECTIVES ET ÉVOLUTIONS

Article de référence | Réf : IN208 v1

Mesures de propriétés barrières au gaz
Technologies d'encapsulation avancées pour l'électronique organique

Auteur(s) : Stéphane CROS, Tony MAINDRON

Date de publication : 10 févr. 2014

Pour explorer cet article
Télécharger l'extrait gratuit

Vous êtes déjà abonné ?Connectez-vous !

Sommaire

Présentation

Auteur(s)

  • Stéphane CROS : PhD Chercheur CEA-LITEN à l'Institut national de l'énergie solaire Laboratoire des technologies pour les modules photovoltaïques, équipe photovoltaïque organique, Le Bourget du Lac, France

  • Tony MAINDRON : PhD Chercheur CEA-LETI Département optique et photonique/Laboratoire des composants pour la visualisation, Grenoble, France

Lire cet article issu d'une ressource documentaire complète, actualisée et validée par des comités scientifiques.

Lire l’article

INTRODUCTION

Résumé

L'électronique organique est depuis quelques années sur le devant de la scène scientifique et technique. Parmi les dispositifs les plus courants, les diodes électroluminescentes organiques (OLED) et les cellules photovoltaïques organiques (OPV) ont été largement étudiées, les OLED étant aujourd'hui en particulier commercialisées sous forme d'afficheurs dans les smartphones modernes. Le problème de ces circuits et des semi-conducteurs organiques qui les composent réside en leur dégradation rapide en présence des gaz oxydants de l'atmosphère, eau et oxygène. Cette sensibilité implique des procédés d'encapsulation coûteux, fragiles et rigides (verre). Des technologies d'encapsulation de nouvelle génération sont donc développées afin de proposer des niveaux barrières aux gaz très élevés et permettre la réalisation de dispositifs d'électronique organique de nouvelle génération : moins chers, flexibles ou conformables, moins fragiles.

Abstract

Organic electronics has emerged in the 1980's and is today a well-developed discipline in the scientific world. Among the most common devices, Organic Light Emitting Diodes (OLEDs) and Organic PhotoVoltaic cells (OPV) have been widely studied : the OLED technology is already marketed today as OLED-based displays that can be found in modern smartphones. The problem with these circuits and organic semiconductors in general lies in their rapid degradation in case of contact with oxidizing gases of the atmosphere, water and oxygen. Therefore, efficient encapsulation processes are needed to achieve sufficient reliability and lifetime. Up to now, complex and expensive glass encapsulation methods have been used. To circumvent these issues, new encapsulation processes have been developed to achieve reliable, low cost, flexible, conformable and less brittle organic-based products.

Mots-clés

Encapsulation, perméation, couches minces, durée de vie, électronique organique

Keywords

Encapsulation, permeation, thin film barriers, lifetime, organic electronic

Points clés

Domaine : Électronique organique

Degré de diffusion de la technologie : Émergence | Croissance | Maturité

Technologies impliquées : Dépôt sous vide, enduction, couches minces, mesure barrière

Domaines d'application : OLED, OPV, OPD, OTFT, électronique organique, plasturgie

Principaux acteurs français :

Pôles de compétitivité : Minalogic, Plastipolis

Centres de compétence : OMNT ( http://www.omnt.fr/index.php/fr), OEA ( http://oea.vdma.org/en_GB/), AFELIM ( http://www.afelim.fr/)

Industriels : MicroOLED, Encapsulix, Astron-Fiam Safety (Blackbody), Armor, Disa Solar

Autres acteurs dans le monde : OSRAM, Philips, Heliatek, Fraunhofer, TNO, UDC, Samsung, LG, Sony, Panasonic, Konika Minolta, Holst Centre

Contact : [email protected] ; [email protected]

Cet article est réservé aux abonnés.
Il vous reste 95% à découvrir.

Pour explorer cet article
Téléchargez l'extrait gratuit

Vous êtes déjà abonné ?Connectez-vous !


L'expertise technique et scientifique de référence

La plus importante ressource documentaire technique et scientifique en langue française, avec + de 1 200 auteurs et 100 conseillers scientifiques.
+ de 10 000 articles et 1 000 fiches pratiques opérationnelles, + de 800 articles nouveaux ou mis à jours chaque année.
De la conception au prototypage, jusqu'à l'industrialisation, la référence pour sécuriser le développement de vos projets industriels.

DOI (Digital Object Identifier)

https://doi.org/10.51257/a-v1-in208


Cet article fait partie de l’offre

Plastiques et composites

(397 articles en ce moment)

Cette offre vous donne accès à :

Une base complète d’articles

Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques

Des services

Un ensemble d'outils exclusifs en complément des ressources

Un Parcours Pratique

Opérationnel et didactique, pour garantir l'acquisition des compétences transverses

Doc & Quiz

Des articles interactifs avec des quiz, pour une lecture constructive

ABONNEZ-VOUS

Lecture en cours
Présentation

4. Mesures de propriétés barrières au gaz

4.1 Principes

Le principe de mesure des propriétés barrières consiste à fixer la pression partielle du gaz cible (eau ou oxygène par exemple) sur une face amont de l'échantillon (film barrière) et à mesurer le flux, ou la quantité cumulée, de gaz cible transmis du côté aval. Les principes généraux de la mesure de perméation sont disponibles dans la référence [AM 3 160] des Techniques de l'Ingénieur. Selon la méthode considérée, le signal de mesure consiste :

  • soit en la mesure du flux de transmission du gaz J au travers du film barrière aux gaz en fonction du temps, figure 32a. J augmente progressivement (régime transitoire) jusqu'à un flux stabilisé J∞ (régime permanent). J∞ correspond au WVTR dans le cas de la mesure eau et à l'OTR dans le cas de la mesure oxygène. Du point de vue de l'instrument de mesure cela implique que le flux de perméant est en permanence évacué du côté aval ;

  • soit en la mesure de la quantité cumulée de gaz cible ayant diffusée, figure 32b. Il s'agit de l'intégrale temporelle de la mesure de flux. La pente de la droite dans le régime permanent est égale au flux de transmission J∞. La régression linéaire à flux nul du régime permanent permet d'obtenir le temps caractéristique du régime transitoire (ou lag time, TL). Dans ce dernier cas, l'enceinte de détection aval est fermée. Une mesure cumulative doit idéalement « absorber » le perméant (détection réactive). Dans le cas contraire,...

Cet article est réservé aux abonnés.
Il vous reste 93% à découvrir.

Pour explorer cet article
Téléchargez l'extrait gratuit

Vous êtes déjà abonné ?Connectez-vous !


L'expertise technique et scientifique de référence

La plus importante ressource documentaire technique et scientifique en langue française, avec + de 1 200 auteurs et 100 conseillers scientifiques.
+ de 10 000 articles et 1 000 fiches pratiques opérationnelles, + de 800 articles nouveaux ou mis à jours chaque année.
De la conception au prototypage, jusqu'à l'industrialisation, la référence pour sécuriser le développement de vos projets industriels.

Cet article fait partie de l’offre

Plastiques et composites

(397 articles en ce moment)

Cette offre vous donne accès à :

Une base complète d’articles

Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques

Des services

Un ensemble d'outils exclusifs en complément des ressources

Un Parcours Pratique

Opérationnel et didactique, pour garantir l'acquisition des compétences transverses

Doc & Quiz

Des articles interactifs avec des quiz, pour une lecture constructive

ABONNEZ-VOUS

Lecture en cours
Mesures de propriétés barrières au gaz
Sommaire
Sommaire

BIBLIOGRAPHIE

  • (1) - BERANOSE (A.) -   *  -  Br. J. Appl. Phys., 6, p. S54 (1995).

  • (2) - POPE (M.), KALLMANN (H.P.), MAGNANTE (P.) -   *  -  J. Chem. Phys., 38, p. 2042 (1963).

  • (3) - ROBERTS (G.G.), McGINNITY (M.), BARLOW (W.A.), VINCETT (P.S.) -   *  -  Solid State Commun., 32, p. 683 (1979).

  • (4) - CHIANG (C.K.), FINCHER (C.R.), PARK (Y.W.), HEEGER (A.J.), SHIRAKAWA (H.), LOUIS (E.J.), GAU (S.C.), MacDIARMID (A.G.) -   *  -  Phys. Rev. Lett., 39(17), p. 1098 (1977).

  • (5) - BORSENBERGER (P.M.), WEISS (D.S.) -   Organic photoreceptors for xerography.  -  DEKKER (M.), New York (1998).

  • (6) - TANG (C.W.), VAN SLYKE (S.A.) -   *  -  Appl. Phys. Lett., 51, p. 913 (1987).

  • ...

Cet article est réservé aux abonnés.
Il vous reste 95% à découvrir.

Pour explorer cet article
Téléchargez l'extrait gratuit

Vous êtes déjà abonné ?Connectez-vous !


L'expertise technique et scientifique de référence

La plus importante ressource documentaire technique et scientifique en langue française, avec + de 1 200 auteurs et 100 conseillers scientifiques.
+ de 10 000 articles et 1 000 fiches pratiques opérationnelles, + de 800 articles nouveaux ou mis à jours chaque année.
De la conception au prototypage, jusqu'à l'industrialisation, la référence pour sécuriser le développement de vos projets industriels.

Cet article fait partie de l’offre

Plastiques et composites

(397 articles en ce moment)

Cette offre vous donne accès à :

Une base complète d’articles

Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques

Des services

Un ensemble d'outils exclusifs en complément des ressources

Un Parcours Pratique

Opérationnel et didactique, pour garantir l'acquisition des compétences transverses

Doc & Quiz

Des articles interactifs avec des quiz, pour une lecture constructive

ABONNEZ-VOUS