Analyse par rayons X induits par particules chargées (PIXE)

   1 Interaction ion-atome dans la production de raies X

   1.1 Ralentissement des particules incidentes

   1.2 Section efficace de production de raies X

   1.3 Fond continu

   2 Appareillage

   2.1 Accélérateurs

   2.2 Chambres de réaction

   2.3 Détecteurs

   2.4 Électronique et traitement des données

   3 Principe et caractéristiques de l'analyse

   3.1 Principe

   3.2 Analyse multiélémentaire

   3.3 Analyse sélective

   4 Aspects de l'analyse

   4.1 Analyse des échantillons

   4.11 Excitation atomique par protons de l'ordre de 1 MeV

   4.12 Excitation atomique par ions lourds

   4.2 Comparaison avec d'autres modes d'excitation du rayonnement X

   4.21 Excitation électronique

   4.22 Excitation photonique

   4.3 Applications

   4.31 Problèmes particuliers à ce type d'analyse

   4.32 Applications en biologie et en médecine

   4.33 Applications aux études environnementales

   4.34 Applications aux études géologiques

   4.35 Application à l'étude des objets d'art et à l'archéologie

   4.36 Applications diverses et analyses industrielles

   5 Conclusion

   Bibliographie