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Lire l’articleINTRODUCTION
Introduction
1 Principes
1.1 Spectres d'émission de rayons X
1.11 Niveaux d'énergie des électrons atomiques
1.12 Transitions entre niveaux
1.13 Longueurs d'onde. Loi de Moseley
1.2 Procédés d'excitation
1.21 Utilisation d'électrons (excitation cathodique ou directe)
1.22 Utilisation d'autres particules chargées ou de radioéléments
1.23 Utilisation d'un rayonnement X primaire (excitation de fluo-rescence)
1.3 Intensité des raies de fluorescence
1.31 Lois d'absorption
1.32 Rendement de fluorescence
1.33 Intensités relatives des raies de fluorescence
1.34 Effets de matrice
2 Appareillages
2.1 Constitution des spectromètres
2.2 Spectromètres de fluorescence classiques
2.21 Source
2.22 Porte-échantillon
2.23 Système dispersif
2.24 Détecteur
2.3 Spectromètres à dispersion en énergie
2.4 Spectromètres à excitation directe
3 Pratique de l'analyse
3.1 Préparation des échantillons
3.11 Dimensions et état physique des échantillons
3.12 Réduction de l'effet de matrice
3.2 Étalonnage et corrections
3.21 Étalons externes
3.22 Étalons internes
3.23 Correction par calcul
3.3 Automatisation des différentes opérations
4 Que peut-on attendre de la spectrométrie des rayons X ?
4.1 Éléments dosables. Matrices. Teneurs
4.2 Interférences possibles
4.3 Précision
4.31 Sources d'erreurs sur la mesure des intensités
4.32 Précision des mesures d'intensité
4.33 Précision de l'analyse
4.4 Durée et coût
4.5 Comparaison avec les autres méthodes
5 Exemples
5.1 Industrie minière
5.2 Métallurgie des métaux non ferreux
5.3 Chimie
5.4 Biologie
5.5 Toxicologie. Études de pollution
5.6 Autres applications. Autres sources d'excitation
Documentation
VERSIONS
- Version archivée 2 de janv. 1987 par Jacques DESPUJOLS
- Version archivée 3 de oct. 1992 par Jacques DESPUJOLS
- Version courante de sept. 2000 par Jacques DESPUJOLS
DOI (Digital Object Identifier)
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