| Réf : P900 v1

Microscopie ionique à effet de champ et sonde atomique

Auteur(s) : Didier BLAVETTE, Alain MENAND

Date de publication : 10 juil. 1989

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  • Didier BLAVETTE :

  • Alain MENAND :

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INTRODUCTION

   Introduction

   1 Principe du microscope ionique et de la sonde atomique

   1.1 Présentation générale

   1.2 Théories de l'ionisation et de l'évaporation par effet de champ

   1.21 Ionisation par effet de champ

   1.22 Évaporation par effet de champ

   1.3 Formation de l'image ionique

   1.4 Principe de la sonde atomique

   2 Appareillage et mise en œuvre

   2.1 Préparation des échantillons

   2.2 Différents types de sondes atomiques

   2.21 Sonde à temps de vol

   2.22 Sonde à images de désorption filtrées

   2.3 Informatique de gestion, de saisie et de traitement des données

   3 Performances et analyse statistique des résultats

   3.1 Spectres de masse

   3.11 Résolution en masse

   3.12 Bruit de fond

   3.2 Résolution spatiale

   3.3 Direction d'analyse et volume analysé

   3.4 Étalonnage des distances analysées

   3.5 Mesure quantitative des compositions

   3.6 Analyse statistique des profils de concentration

   4 Applications

   4.1 Défauts

   4.2 Surfaces, interfaces

   4.3 Ordre chimique

   4.4 Décomposition et transformation de phase

   Conclusion

   Bibliographie

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VERSIONS

Il existe d'autres versions de cet article :

DOI (Digital Object Identifier)

https://doi.org/10.51257/a-v1-p900


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