Bibliographie & annexes
Présentation
Auteur(s)
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Irène JOINDOT : Ingénieur de l’École Nationale Supérieure d’Électronique et d’Électrotechnique de Caen - Docteur de l’Institut d’Électronique fondamentale d’Orsay-Paris et de l’Université des Sciences et Techniques du Languedoc-Montpellier - Chargée d’Études sur les composants optoélectroniques d’émission pour transmissions par fibres optiques au CNET-Lannion
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Lire l’articleINTRODUCTION
Les composants émetteurs de lumière à semi-conducteur représentent la clé de voûte d’un nombre croissant d’édifices optoélectroniques. Ils se rencontrent dans les systèmes de télécommunications par fibre optique, dans les senseurs optiques, dans les systèmes de lecture de disques optiques, dans certains terminaux et équipements de mesure (imprimantes, alarmes, distancemètres, etc.).
Les performances de ces systèmes optoélectroniques sont étroitement liées à celles des composants émetteurs. L’évaluation, l’amélioration, ou la bonne utilisation de ces émetteurs reposent sur la mesure précise des paramètres fondamentaux qui interviennent dans chaque utilisation.
Prenons l’exemple d’une liaison par fibre optique où l’information est portée simplement par l’intensité de la lumière : il faut pouvoir mesurer la vitesse optimale de modulation de la lumière émise, le manque de linéarité introduit par la conversion du courant électrique en lumière. Dans les systèmes plus élaborés comme les systèmes de transmission cohérents dans lesquels la phase, ou la fréquence, est le support de l’information, la connaissance du bruit de fréquence, ou de phase, est d’importance vitale.
Après un bref rappel sur le mode de fonctionnement des émetteurs à semi-conducteur, nous détaillerons les méthodes de mesure des principaux paramètres. La description des mesures purement électriques précédera celle des mesures purement optiques. Puis viendront les mesures faisant intervenir la conversion des électrons en photons.
L'expertise technique et scientifique de référence
VERSIONS
- Version courante de déc. 2007 par Irène JOINDOT, Naveena GENAY, Philippe CHANCLOU
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Jonctions émettrices à semi-conducteur4. Conclusion
Après un bref rappel sur le fonctionnement des composants émetteurs à semi-conducteur et sur leurs structures, nous avons exposé les principes de mesure de leurs paramètres spécifiques. Nous n’avons pas eu ici la place nécessaire pour faire une revue exhaustive de toutes les mesures. Les lecteurs trouveront une fiche documentaire à la suite de cet article.
À mesure que les domaines d’utilisation des composants émetteurs à semi-conducteur s’élargissent, de nouvelles applications appellent de nouveaux types de mesure. En regardant la mise en œuvre extrêmement complexe de certaines mesures, il n’est pas difficile d’imaginer la part non négligeable, dans le prix d’un composant émetteur, prise par les mesures de caractérisation. D’un autre côté, certaines mesures bien spécifiques pourraient diminuer les prix de revient.
Signalons que plusieurs constructeurs recherchent une corrélation entre les mesures de bruit électrique aux bornes des lasers à semi-conducteur, en basse fréquence et faible courant, et leur fiabilité, en vue d’établir une méthode rapide et économique de tri des lasers.
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Conclusion
BIBLIOGRAPHIE
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(1) - * - + historique* étude théorique
-
(2) - * - △ comporte des résultats d’essais de laboratoire
-
(3) - AGRAWAL (G.P.), DUTTA (N.K.) - Longwavelength semiconductors lasers (Lasers à semi-conducteur et à grande longueur d’onde). - 473 p., Van Nostrand Reinhold Company Inc, New York (1986).
-
(4) - PETERMANN (K.) - Laser diode modulation and noise (Bruit et modulation des lasers). - 315 p., Kluwer Academic Publishers, The Nederlands (1988).
-
(5) - TSANG (W.T.) - Semiconductors and semimetals. - 342 p., Academic Press Inc Orlando (Florida, USA) (1985).
-
(6) - JOINDOT (I.), BOISROBERT (C.) - Intensity noise measurements in semiconductor lasers (Bruit d’intensité dans les lasers à semi- conducteur). - ISSSE 89 URSI (International symposium...
ANNEXES
Analyseur de réseau HP 9830A ou HP 8505A de Hewlett-Packard.
Analyseur de paramètres HP 4142 de Hewlett-Packard.
Spectromètre à réseau HR 1000 de Jobin-Yvon.
Sphère intégratrice de Labsphere.
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