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Lire l’articleINTRODUCTION
Les synchrotrons de 3e génération sont des sources de rayons X extraordinairement puissantes. Ils ont permis le développement d’une nouvelle version haute résolution de la tomographie à rayons X, technique d’imagerie non destructive. Ainsi par exemple, la microstructure interne de matériaux peut être étudiée.
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Problèmes traités2. Illustrations
Nous avons choisi quelques exemples pour illustrer les performances spécifiques de l’imagerie aux rayons X synchrotron. Nous avons vu précédemment que les intérêts principaux résident dans la possibilité d’obtenir une excellente résolution spatiale en des temps de pause très courts. L’apport du contraste de phase pour visualiser des inclusions de même absorption que la matrice est également une spécificité à illustrer.
2.1 Résolution
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Des inclusions riches en fer, d’une taille moyenne de quelques microns, sont présentes après fabrication dans une matrice d’aluminium. Le contraste d’atténuation entre les deux constituants est donc excellent. Les acquisitions tomographiques ont été réalisées sur la ligne ID19 de l’ESRF avec le dispositif permettant d’obtenir des radiographies avec une résolution de 0,7 µm. La figure 2 permet de comparer une coupe reconstruite à cette résolution (figure 2a) et la même coupe telle qu’elle aurait pu être obtenue avec un dispositif classique permettant l’imagerie à une résolution de 5 µm (figure 2b). La comparaison des deux illustre l’apport de la haute résolution en terme de caractérisation de la microstructure des matériaux à l’échelle du micromètre. Il faut noter le gain très important obtenu en passant de 5 à 0,7 µm. Cette échelle nouvellement accessible est très pertinente dans de nombreux problèmes en science des matériaux 3.
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Il est parfois nécessaire de réduire encore la valeur de cette résolution. La meilleure résolution (exprimée comme taille de voxel) possible en faisceau parallèle est actuellement de 0,3 µm. À cette résolution, il devient illusoire de trouver un système...
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BIBLIOGRAPHIE
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