Présentation

Article

1 - PROCESSUS ITÉRATIF DE « DÉVERMINAGE »

2 - PLANIFICATION DES ESSAIS ET MESURE DE LA « CROISSANCE » DE FIABILITÉ

3 - CAS DU LOGICIEL

4 - ORGANISATION ET GESTION DE LA SÛRETÉ DE FONCTIONNEMENT

| Réf : E3856 v1

Organisation et gestion de la sûreté de fonctionnement
Sûreté de fonctionnement des systèmes - Croissance de fiabilité et management

Auteur(s) : Marc GIRAUD

Date de publication : 10 mai 2007

Pour explorer cet article
Télécharger l'extrait gratuit

Vous êtes déjà abonné ?Connectez-vous !

Sommaire

Présentation

RÉSUMÉ

La réduction du risque de pannes opérationnelles sur le terrain, ou d’échec aux essais de qualification et de recette impose l’application systématique d’épreuves physiques liées à la présence aléatoire de fautes résiduelles. Et même, face au déterminisme des fautes génériques, la conduite éventuelle d’essais valide l’obtention d’une fiabilité conforme au modèle de croissance choisi et au phasage du programme.

Lire cet article issu d'une ressource documentaire complète, actualisée et validée par des comités scientifiques.

Lire l’article

Auteur(s)

  • Marc GIRAUD : Ingénieur de l’École Française de Radioélectricité, d’Électronique et d’Informatique (EFREI) - Ancien chef du service Sûreté de fonctionnement et Testabilité de Dassault Électronique

INTRODUCTION

La réduction du risque de pannes opérationnelles sur le terrain, ou d’échec aux essais de qualification/recette impose (à divers niveaux d’intégration) l’application systématique d’épreuves physiques liées à la présence aléatoire de fautes résiduelles ; et même – face au déterminisme des fautes génériques – la conduite éventuelle d’essais, validant l’obtention d’une fiabilité conforme au modèle de croissance choisi et au phasage du programme.

Cela implique :

  • pour le matériel de série : de dimensionner la durée des contraintes appliquées – dans le cadre itératif du processus de « déverminage » – afin d’éliminer en usine les éléments statistiquement faibles, par des cycles à variation rapide de température, dits VRT. Il faut inclure, en présérie, les mesures accélérées de marges de fonctionnement, de seuils de destruction et/ou de durées de vie, par essais de type HALT (« highly accelerated life testing ») et HASS (« highly accelerated stress screening », hors du processus de croissance, au sens strict) ;

  • pour le matériel et le logiciel : l’implémentation d’un véritable programme de croissance de fiabilité, en phase de développement. Il s’agit là de planifier et contrôler les besoins de reconception et de test associés, via les modèles de Duane, du groupe AMSAA ou du LAAS-CNRS, validant à temps l’intégration des modifications introduites ;

  • pour le management de l’activité sûreté de fonctionnement (SdF) sur les phases du cycle de vie : le rappel de l’enchaînement logique des tâches, des outils et documents requis, selon leur finalité.

Cet article est réservé aux abonnés.
Il vous reste 95% à découvrir.

Pour explorer cet article
Téléchargez l'extrait gratuit

Vous êtes déjà abonné ?Connectez-vous !


L'expertise technique et scientifique de référence

La plus importante ressource documentaire technique et scientifique en langue française, avec + de 1 200 auteurs et 100 conseillers scientifiques.
+ de 10 000 articles et 1 000 fiches pratiques opérationnelles, + de 800 articles nouveaux ou mis à jours chaque année.
De la conception au prototypage, jusqu'à l'industrialisation, la référence pour sécuriser le développement de vos projets industriels.

DOI (Digital Object Identifier)

https://doi.org/10.51257/a-v1-e3856


Cet article fait partie de l’offre

Électronique

(228 articles en ce moment)

Cette offre vous donne accès à :

Une base complète d’articles

Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques

Des services

Un ensemble d'outils exclusifs en complément des ressources

Un Parcours Pratique

Opérationnel et didactique, pour garantir l'acquisition des compétences transverses

Doc & Quiz

Des articles interactifs avec des quiz, pour une lecture constructive

ABONNEZ-VOUS

4. Organisation et gestion de la sûreté de fonctionnement

Il n’est pas question de fixer ici un cadre organisationnel standard, situant l’activité SdF au sein des entreprises, quel que soit leur taille, le niveau d’intervention (maîtrise d’œuvre système, équipementier, sous-traitant), l’implication dans le projet (conception, fabrication, contrôle) ou le domaine industriel.

L’activité pluridisciplinaire SdF peut être soit centralisée dans un service indépendant de toute division ou département, soit dévolue à des spécialistes formellement identifiés et à ce titre tout aussi responsables, auprès d’une direction technique, industrielle ou générale.

Il y a donc lieu de proscrire deux situations :

  • confier au personnel soumis à la hiérarchie en charge de la conception ou de la fabrication du produit le soin d’évaluer sa SdF (on ne doit pas être juge et partie) ;

  • sous-traiter à des intervenants (internes ou externes) n’ayant d’autre pouvoir que d’approuver ou constater l’état de ce qui leur serait tardivement soumis.

Car, outre la « confiance justifiée dans le service attendu », la SdF est pour le client (l’exploitant d’un système) un facteur déterminant du coût global de possession. C’est pourquoi, côté fournisseur, elle ne doit pas, du fait des contraintes du marché (coût d’acquisition, time to market ), être reléguée au bout de la chaîne de conception et réduite au dimensionnement prévisionnel de l’après-vente.

Très tôt, dans les années 1960, les Américains ont saisi le risque lié à cette situation et analysé les frais fixes imputables à la fiabilité (ou ceux récurrents dus à la maintenance), à travers la notion de life cycle cost (LCC).

Son calcul – de l’avant-projet jusqu’au retrait du service – identifie ainsi la partie immergée de « l’iceberg des coûts » et l’impact relatif d’options de conception, prises très en amont, quand le pourcentage du budget effectivement dépensé est encore très faible devant celui engagé. Toutes ces options pèseront cependant très lourd dans les phases ultérieures, là où il n’y aura plus financièrement de marge disponible pour rectifier les bévues (figure 12).

Cette prise de conscience s’est traduite par la parution d’une multitude...

Cet article est réservé aux abonnés.
Il vous reste 93% à découvrir.

Pour explorer cet article
Téléchargez l'extrait gratuit

Vous êtes déjà abonné ?Connectez-vous !


L'expertise technique et scientifique de référence

La plus importante ressource documentaire technique et scientifique en langue française, avec + de 1 200 auteurs et 100 conseillers scientifiques.
+ de 10 000 articles et 1 000 fiches pratiques opérationnelles, + de 800 articles nouveaux ou mis à jours chaque année.
De la conception au prototypage, jusqu'à l'industrialisation, la référence pour sécuriser le développement de vos projets industriels.

Cet article fait partie de l’offre

Électronique

(228 articles en ce moment)

Cette offre vous donne accès à :

Une base complète d’articles

Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques

Des services

Un ensemble d'outils exclusifs en complément des ressources

Un Parcours Pratique

Opérationnel et didactique, pour garantir l'acquisition des compétences transverses

Doc & Quiz

Des articles interactifs avec des quiz, pour une lecture constructive

ABONNEZ-VOUS

Lecture en cours
Organisation et gestion de la sûreté de fonctionnement
Sommaire
Sommaire

BIBLIOGRAPHIE

  • (1) -   Répertoire des moyens, laboratoires et organismes d’essais en environnement.  -  ASTE (2005).

  • (2) - MAURIER (I.) -   Guide du STRIFE.  -  Mémoire de DESS Fiabilité, université d’Angers (1991).

  • (3) -   Déverminage des matériels électroniques : apport de la démarche aggravée.  -  ASTE (2006).

  • (4) -   Recueil des conférences Astelab 2006.  -  ASTE (2007).

  • (5) -   Déverminage des matériels électroniques.  -  ASTE, AFQ (1996).

  • (6) - DUANE (J.T.) -   « Learning curve approach to Reliability Monitoring ».  -  (IEEE transactions in Aerospace, vol. 2 (1964).

  • ...

Revues

* - IEEE transactions on reliability (trimestrielle, États-Unis)

* - Phoebus (trimestrielle, France)

Actes de congrès

* - Colloque européen « λ,µ » (France, années paires)

* - European Safety and Reliability Conference, années impaires (ESREL)

* - Proceedings of Annual Reliability and Maintainability Symposium (RAMS) (États-Unis)

* - International Symposium on Fault Tolerant Computing (IEEE) (FTCS) (annuel, États-Unis)

* - Proceedings of Institute of Environmental Sciences (IES) (États-Unis)

HAUT DE PAGE

2 Normalisation, recommandations

NF C98-883 - 04-85 - Microstructures – Sélection des circuits intégrés par élimination des défauts de jeunesse – Prescriptions générales (Afnor). - -

MIL-STD-785B - 07-98 - Reliability program for systems and equipment development and production. - -

MIL-STD-883 - 02-06 - Test Method Standard, Microcircuits. - -

RGAéro 000.29 - Guide pour la définition et la conduite d’essais aggravés (BNAE). - -

DO-178B - 01-92 - Software...

Cet article est réservé aux abonnés.
Il vous reste 94% à découvrir.

Pour explorer cet article
Téléchargez l'extrait gratuit

Vous êtes déjà abonné ?Connectez-vous !


L'expertise technique et scientifique de référence

La plus importante ressource documentaire technique et scientifique en langue française, avec + de 1 200 auteurs et 100 conseillers scientifiques.
+ de 10 000 articles et 1 000 fiches pratiques opérationnelles, + de 800 articles nouveaux ou mis à jours chaque année.
De la conception au prototypage, jusqu'à l'industrialisation, la référence pour sécuriser le développement de vos projets industriels.

Cet article fait partie de l’offre

Électronique

(228 articles en ce moment)

Cette offre vous donne accès à :

Une base complète d’articles

Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques

Des services

Un ensemble d'outils exclusifs en complément des ressources

Un Parcours Pratique

Opérationnel et didactique, pour garantir l'acquisition des compétences transverses

Doc & Quiz

Des articles interactifs avec des quiz, pour une lecture constructive

ABONNEZ-VOUS