Optique électronique

La complexité et le nombre grandissant d'appareils et de systèmes électriques ou électroniques, ont rendu l'étude de compatibilité électromagnétique (CEM) difficile. Deux approches pour cette étude sont généralement adoptées : soit aborder la CEM de manière pratique, en testant l'appareil en expérimentation, soit utiliser des outils de simulation numérique pour réaliser des expérimentations virtuelles sur des systèmes électroniques non accessibles à l'expérimentation concrète. Inconvénient majeur : ces deux méthodes offrent une analyse des résultats à un niveau uniquement intuitif. Cet article présente ainsi une autre démarche, celle basée sur des principes mathématiques formels et rigoureux, qui permet d'analyser correctement un système. Les méthodes sont ainsi efficaces, détaillées et précises, notamment elles indiquent comment diviser la complexité en sous-problèmes moins complexes ou encore comment exploiter l'identification des éléments influents.

The complexity and increasing number of electrical or electronic devices and systems have made the study of electromagnetic compatibility (EMC) complex. Two approaches for this study are generally adopted: either by approaching the EMC from a practical angle, by testing the device or by using numerical simulation tools in order to carry out virtual tests on electronic systems that are not accessible to concrete testing. The major drawback of these two approaches is that they only provide an intuitive analysis of results. This article thus presents another approach, based on formal and rigorous mathematical principles allowing for the correct analysis of a system. These methods are therefore efficient, detailed and precise; they notably show how complex problems can be divided into less complex subproblems or even how to exploit the identification of influential elements.