Article

1 - TECHNOLOGIE DES COMPOSANTS

2 - MÉTHODES DE MESURE NORMALISÉES

3 - MODÉLISATION DE L'ÉMISSION

4 - MODÉLISATION DE L'IMMUNITÉ DES COMPOSANTS

| Réf : E1318 v1

Notions de CEM des composants

Auteur(s) : Étienne SICARD, Frédéric LAFON

Date de publication : 10 mai 2012

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Auteur(s)

  • Étienne SICARD : Professeur, INSA de Toulouse

  • Frédéric LAFON : Senior Expert CEM - Responsable de l'activité d'expertise CEM à VALEO

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INTRODUCTION

Cet article, reprenant et mettant à jour les éléments publiés dans [E 2 475], comprend un approfondissement des notions de sources de bruit et de leur modélisation introduites dans [E 1 302]. L'évolution des technologies de fabrication vers les dimensions nanométriques est détaillée au paragraphe 1 du point de vue de différentes grandeurs physiques et électriques en lien direct avec la compatibilité électromagnétique (CEM) des composants. Nous dressons au paragraphe 2 un état de l'art des méthodes de mesure normalisées applicables aux composants, ainsi que des propositions de normes en matière de modélisation de l'émission et de l'immunité des circuits intégrés. Pour illustrer les aspects modélisation et simulation, nous détaillons aux paragraphes 3 et 4 des cas d'étude concernant l'émission conduite d'un microcontrôleur, l'émission rayonnée d'un amplificateur intégré, ainsi que l'immunité conduite d'un transistor discret et d'un régulateur de tension. L'étude de la susceptibilité présente aussi les notions de comportement « in-band », « out-band » et décrit les différents mécanismes de dégradation de comportement.

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VERSIONS

Il existe d'autres versions de cet article :

DOI (Digital Object Identifier)

https://doi.org/10.51257/a-v1-e1318


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BIBLIOGRAPHIE

  • (1) - SICARD (E.), BOYER (A.) -   IC-EMC User's manual version 2.5.  -  ISBN 978-2-87649-056-7 INSA de Toulouse, France (2011).

  • (2) - BOYER (A.), BEN DHIA (S.), SICARD (E.) -   Characterization of the electromagnetic susceptibility of integrated circuits using a near field scan.  -  Electronics Letters, the IEE society, vol. 43, Issue 1, p. 15-16 (2007).

  • (3) - LAFON (F.) -   Développement de techniques et de méthodologies pour la prise en compte des contraintes CEM dans la conception d'équipements du domaine automobile. Étude de l'immunité du composant à l'équipement.  -  Mémoire de thèse de l'INSA, Rennes (2011).

  • (4) - BEN DHIA (S.), RAMDANI (M.), SICARD (E.) -   EMC of Ics : techniques for low emission and susceptibility.  -  Springer, ISBN : 0-387-26600-3, USA (2006).

  • (5) - NDOYE (A.C.), SICARD (E.), LAFON (F.) -   Méthodologie prédictive de l'immunité conduite d'un circuit intégré non linéaire.  -  Colloque CEM2010, Limoges (2010).

  • ...

1 Outils logiciels

INSA Toulouse, octobre 2011, IC-EMC (version pour Windows XP, 7), 135 Av. de Rangueil, 31077 Toulouse, France, logiciel en téléchargement libre sur http://www.ic-emc.org

Sigrity, Campbell, Californie, USA, Logiciel PowerSI, version 10, 2010 (version pour Windows XP), plus d'information sur http://www.sigrity.com

HAUT DE PAGE

2 Sites Internet

Site de l'IEC (International Électrotechnical Commission) : http://www.iec.ch

On y trouve des spécifications des différentes normes modélisation composants (projet IEC 62433), méthodes de mesure en émission (IEC 61967) et immunité (IEC 62132). Voir détails dans la rubrique « Normes et standards » ci-après.

Site de l'ITRS (International Technology Roadmap for Semiconductors), version 2009 http://www.itrs.net

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3 Événements

Le workshop international EMC Compo a lieu tous les deux ans. Le workshop s'est tenu en novembre 2011 à Dubrovnik ...

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