Olivier SCHNEEGANS
Chercheur CNRS, Laboratoire de génie électrique et électronique de Paris, UMR 8507 CNRS-Centrale-Supélec, Universités Paris-Sud et UPMC, Université Paris-Saclay, Gif-sur-Yvette, France
Le principe de la microscopie à sonde locale électrique permet d’accéder, avec une résolution spatiale de l’ordre du nanomètre, aux grandeurs telles que le courant, l’impédance ou encore le champ électrique. Chaque technique possède ses performances, ses sources d’erreur et ses pistes d’amélioration.