Mounir BENABDENBI

Maître de Conférence à l’Institut Polytechnique de Grenoble (Grenoble INP) - Laboratoire des Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture des systèmes intégrés (TIMA), Grenoble, France

  • Article de bases documentaires : E2461

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    Test des circuits intégrés numériques - Conception orientée testabilité

    Il est désormais primordial de prendre en compte la testabilité d’un circuit intégré lors de sa phase de conception. Découvrez les différentes techniques architecturales pouvant être utilisées dans ce but, que ce soit pour des blocs numériques simples ou pour des systèmes plus complexes.

  • Article de bases documentaires : E2460 (relu et validé)

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    Test des circuits intégrés numériques - Notions de base et évolutions

    Découvrez les méthodes et les outils utilisés pour discriminer les circuits intégrés avec et sans défaut. Les tests en fin de fabrication sont en perpétuelle évolution, ils prennent en compte la technologie, le matériau et les applications de ces circuits de plus en plus complexes.